美國奧林巴斯45MG泛美超聲波測厚儀

45MG超聲測厚儀:

操作簡(jiǎn)便、堅固耐用、性能可靠

  45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項超聲測厚儀。這款特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng )新型儀器，可用于幾乎所有測厚應用。

標準功能

  45MG儀器在使用基本配置時(shí)，是一款易懂易學(xué)、操作簡(jiǎn)便的測厚儀，操作人員經(jīng)過(guò)基本的培訓，可完成常用的測厚應用。不過(guò)，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，會(huì )變成一款極為測厚儀，可以進(jìn)行典型的初級儀器不能完成的應用。此外，大多數選項可以在購買(mǎi)儀器時(shí)分別購買(mǎi)，或在日后需要時(shí)購買(mǎi)。

•  與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對內部腐蝕的金屬的厚度進(jìn)行測量

• 小值/大值模式

•  兩個(gè)報警模式

• 差值模式

• 時(shí)基B掃描

• 縮減率

• 增益調整（標準、高、低）

• 密碼式儀器鎖定

帶有可選橡膠保護套和支架的45MG儀器

抵御惡劣環(huán)境的能力

• 堅固耐用，設計符合IP67標準。

• 爆炸性氣氛：可在國家防火協(xié)會(huì )規范（NFPA 70）500節I級2分段D組規定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過(guò)了美軍標準MIL-STD-810G方法511.4程序I中規定的測試。

• 防撞擊測試：通過(guò)了美軍標準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規定的測試，每軸6個(gè)循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。

• 防振動(dòng)測試：通過(guò)了美軍標準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時(shí)。

• 寬泛的操作溫度范圍

• 可選的帶有支架的橡膠保護套

簡(jiǎn)便操作的設計理念

• 可只用右手或左手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區

• 可直接訪(fǎng)問(wèn)大多數功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面

• 使用內置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡的存儲方式

• USB通訊端口

• 可存儲475000個(gè)厚度讀數或20000個(gè)波形的可選字母數字式數據記錄器

• 默認或自定義單晶探頭設置（可選）

• 密碼保護方式的儀器鎖定

• 彩色透反QVGA顯示，帶有室內和室外顏色設置，具有清晰度

可選功能

  只需幾次按鍵，即可完成從簡(jiǎn)單腐蝕測厚儀到多功能測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個(gè)軟件選項，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途廣泛的測厚儀行列。

  回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會(huì )顯示金屬的實(shí)際厚度，而涂層的厚度會(huì )被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個(gè)厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，在進(jìn)行厚度測量時(shí)，無(wú)需去掉材料表面的漆層或涂層。

  單晶： 這個(gè)選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進(jìn)行非常厚度測量。這個(gè)選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

  單晶高穿透：這個(gè)選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進(jìn)行厚度測量?？膳c范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個(gè)選項包含單晶選項。

  數據記錄器：45MG測厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內置雙向字母數字式數據記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數和波形數據。這個(gè)選項包含基于Windows的GageView接口程序。

  帶有波形調整功能的實(shí)時(shí)A掃描： 用戶(hù)使用這個(gè)可選實(shí)時(shí)A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱(chēng)A掃描），核查厚度測量讀數，對增益和空白設置進(jìn)行手動(dòng)調整，以在具有挑戰性的應用中大限度地增強測量性能。這個(gè)極為有益的選項包含手動(dòng)增益調整、擴展空白、個(gè)回波空白、范圍及延遲參數。

室內顯示設置，可選A掃描模式

室外顯示設置，可選A掃描模式

使用雙晶探頭對腐蝕工件進(jìn)行測量

 45MG測厚儀的一個(gè)主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結構的剩余厚度。這些應用中常使用的是雙晶探頭。

• 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識別功能

• 當校準過(guò)程中出現雙回波時(shí)，會(huì )發(fā)出雙回波警告

• 回波到回波/穿透涂層選項可測量帶有漆層和涂層的表面

• 高溫測量：溫度可高達500 °C]

B掃描成像（基于時(shí)間）

  45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實(shí)時(shí)厚度讀數轉換為橫截面圖像。在觀(guān)察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時(shí)，這個(gè)標準功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，會(huì )激活B掃描。凍結小值功能用于顯示掃查區域的小厚度值?？蛇x45MG數據記錄器多可存儲單個(gè)B掃描中的10000個(gè)厚度讀數。

室內顯示設置，B掃描模式

回波到回波/穿透涂層選項

回波到回波

測厚儀使用多個(gè)底面回波，顯示不計涂層厚度的實(shí)際金屬厚度：

• 自動(dòng)回波到回波

• 手動(dòng)回波到回波（僅出現于A(yíng)掃描選項），可進(jìn)行以下操作：

1、 增益調整

2、 擴展空白

3、 回波空白

顯示A掃描的自動(dòng)回波到回波模式

調整個(gè)回波空白的手動(dòng)回波到回波模式

高溫表面

   45MG測厚儀配上D932系列探頭（D790、D790--SM、D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達500 oC）的理想選擇，并可獲得穩定的厚度讀數。45MG的零位補償功能，通過(guò)補償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進(jìn)行測量的精確性。

穿透涂層技術(shù)

   使用單個(gè)底面回波測量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，要得到金屬的厚度，無(wú)需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項未被激活）

顯示可選波形的穿透涂層模式

使用單晶探頭對工件進(jìn)行精確測量

  對塑料、金屬、復合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測量

  使用單晶探頭

用戶(hù)使用單晶探頭可以測量金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和連接器類(lèi)型的單晶探頭。如果用戶(hù)要將45MG儀器與單晶探頭配合使用，則必須購買(mǎi)單晶軟件或高穿透軟件選項。

•  在使用頻率范圍為2.25 MHz到30 MHz的單晶探頭時(shí)，單晶軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米（0.0001英寸）的測量值。

• 高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。

• 測量厚度、聲速或渡越時(shí)間。

• 自動(dòng)調用默認設置和自定義設置用于當前應用的功能簡(jiǎn)化了厚度測量操作。

單晶軟件選項

   用戶(hù)使用單晶軟件選項，可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的極為厚度測量。這個(gè)選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

• 大多數薄材料和厚材料

• 壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料

• 壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機加工部件

• 汽缸孔、渦輪葉片

• 玻璃燈泡、瓶子

• 薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料

• 曲面部分或內圓角半徑較小的容器

高穿透軟件選項可以對很多鑄造金屬部件及聲波衰減性的材料進(jìn)行測量。

應用設置調用

    應用設置調用功能簡(jiǎn)化了厚度測量操作。用戶(hù)在選擇了任何一個(gè)存儲探頭后，45MG測厚儀即會(huì )調出所有與這個(gè)內置探頭相關(guān)的參數。

存儲的標準設置

    45MG儀器帶有21個(gè)標準單晶探頭設置，可用于常用的測量操作。這些默認探頭設置可用于各種各樣的厚度測量應用。

存儲的自定義設置

    45MG還可存儲多35個(gè)自定義單晶探頭的設置，其中還包括校準信息。用戶(hù)可以連接適當的探頭，并調用設置文件，然后儀器便可進(jìn)行厚度測量，甚至還可完成復雜的測厚應用。

材料聲速測量

    45MG儀器可以測量材料的聲速。在材料聲速與其它屬性密切相關(guān)的應用中，這個(gè)標準功能非常有用。典型的應用包括監控鑄造金屬的球化程度，以及監控復合材料/玻璃纖維的密度變化。

縮減率測量

    差值模式和縮減率模式是45MG的標準功能。差值模式顯示實(shí)際厚度與預先設定的厚度值之間的差異?？s減率計算并顯示材料厚度變薄以后厚度縮減的百分比。對經(jīng)過(guò)彎曲變形并將制成車(chē)身面板的薄鋼板進(jìn)行的縮減率測量是一個(gè)典型的應用。

使用20 MHz延遲塊探頭測量薄塑料材料。

使用V260-SM Sonopen探頭對薄玻璃進(jìn)行測量。

測量金屬板因彎曲變形而變薄的情況。

可測量包括塑料、金屬、橡膠、玻璃、陶瓷及復合材料在內的很多材料的厚度。

單晶高穿透軟件選項

  用戶(hù)使用這個(gè)選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、玻璃纖維、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。 這個(gè)選項包含單晶選項。

•  大多數較厚或聲音衰減性較強的材料

• 厚鑄造金屬部件

• 厚橡膠輪胎、履帶

• 玻璃纖維船體、儲存罐

• 復合材料板

• 對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）

產(chǎn)品規格